Preisträger: Markus Jonscher, M.Sc., PD Dr.-Ing. habil. Jürgen Seiler, Dr.-Ing. Thomas Richter, Dr.-Ing. Michel Bätz, Prof. Dr.-Ing. André Kaup
Markus Jonscher, M.Sc., PD Dr.-Ing. Jürgen Seiler, Dr.-Ing. Thomas Richter, Dr.-Ing. Michel Bätz und Prof. Dr.-Ing. André Kaup erhielten einen Top 10% Best Paper Award auf der IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) in Paris im Oktober 2014 für ihren Beitrag “Reconstruction of Images Taken by a Pair of Non-Regular Sampling Sensors Using Correlation Based Matching“.